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AP-CJ高低温冲击试验箱半导体

高低温冲击试验箱半导体满足标准：GJB360.7-87温度冲击试验；GJB 150.5A-2009 装备实验室环境试验方法第5部分：温度冲击试验；

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更新日期：2023-05-02

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AP-CJled温度冲击实验箱

led温度冲击实验箱温度控制器操作界面：TFT 彩色液晶显示触摸屏，中文菜单提示

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AP-CJpcb冷热冲击试验试验箱

pcb冷热冲击试验试验箱测控系统：控制器：7寸触屏中英文显示器+PLC﹙控制软件﹚+温控模块

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AP-CJ低温冲击试验设备

低温冲击试验设备引线孔：可在在箱体的左侧面开设 1 个或多个直径为Ф50mm或Ф100mm的引线孔用于测试半导体电源和测试信号线引入，带有测试孔密封盖；

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AP-CJ-65℃kaiyun体育官方网站入口

-65℃kaiyun体育官方网站入口温湿度控制仪表：可编程台通TT-5188控制器，7寸大屏幕，触摸屏输入，中英文切换。根据用户要求可任意设定不同温度段做冲击试验。

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AP-CJ三箱式冷热冲击老化机

三箱式冷热冲击老化机使用的温度运行控制系统如下：控制器:LED数显（P、I、D＋S、S、R.）微电脑集成控制器

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